Eden izmed pomembnejših raziskovalnih dosežkov programske skupine je pojasnitev vpliva planarnih napak (dvojčki, inverzne meje, antifazne meje, politipne sekvence) na pretirano in/ali anizotropno rast zrn med sintranjem polikristaliničnih keramičnih materialov. Dosedaj predlagani mehanizmi namreč niso predvidevali, da lahko rastni defekti odločujoče vplivajo na razvoj mikrostrukture. S pojasnitvijo mehanizma nukleacije kot tudi strukture in kemijske sestave različnih planarnih napak v tehnološko pomembnih materialih (varistorji, dielektriki) z metodami elektronske mikroskopije smo določili splošne pogoje (termodinamske in procesne), znotraj katerih lahko kontroliramo razvoj mikrostrukture s pomočjo planarnih napak. Poznavanje teh pogojev nam omogoča pripravo materialov z vnaprej zahtevanimi lastnostmi, saj lahko z različnimi dopanti in nukleacijo planarnih napak predvidimo razvoj mikrostrukture. Ti izsledki so zelo pomembni za znanost v širšem smislu, saj prinašajo nova spoznanja na področju razvoja mikrostrukture. Njihovo aplikativno vrednost pa smo dokazali pri načrtovanju mikrostrukture na podlagi kontroliranega dopiranja varistorske keramike na osnovi ZnO. Raziskovalna skupina je zelo pomembno prispevala k razvoju in izboljšanju številnih metod elektronske mikroskopije. Člani programske skupine so sami oziroma s tujimi partnerji razvili naslednje analitske metode elektronske mikroskopije: metodo za določanje polarne osi v necentosimetričnih kristalih, metodo za določanje kemijske sestave sub-atomarnih plasti, metodo za kvantifikacijo HAADF-STEM posnetkov, metodo za procesiranje HAADF-STEM posnetkov, metodo za vrednotenje EELS spektrov ter metodo optimizacije WDXS analize za elemente z majhno koncentracijo. Posebno je pomemben prispevek programske skupine pri razvoju tako imenovane Z-kontrast metode (HAADF-STEM).