Veliko integriranih senzorskih sistemov ima linearni temperaturni koeficient, ki ga je potrebno kompenzirati. To velja za parametre kot sta temperaturni koeficient ničelne napetosti in temperaturni koeficient občutljivosti. Razvit je način kompenzacije temperaturnega koeficienta ničelne napetosti in občutljivosti. Napetost, ki kompenzira temperaturno odvisnost je raciometrična glede na napajalno napetost. V prispevku je predstavljena zasnova in simulacije. Sistem je izdelan v 0.35 µm CMOS tehnologiji. Rezultati meritev so prav tako predstavljeni v prispevku.
B.03 Referat na mednarodni znanstveni konferenci
COBISS.SI-ID: 7300948Referenčni vir je namenjen uporabi v integriranih sistemih, ki lahko uporabljajo baterijsko napajanje. Referenčni vir temelji na ekstrakciji potenciala energijske reže silicija, vendar izkorišča le polovico območja, saj je potencial 1,205V previsok. Referenčni vir deluje pri napetosti do 0,8V in ima na izhodu napetost nastavljivo od 0,3V do 0,5V s točnostjo 20ppm/C. O tem je bil napisan tudi članek ''A compensated bandgap voltage reference with sub-1-supply voltage'' v? reviji Analog Integrated Circuits and Signal Processing.
F.32 Mednarodni patent
COBISS.SI-ID: 5429844Nova metoda za nizkonapetostne referenčne vire, kjer lahko proizvedemo katerokoli referenčno napetost od 100mV in navzgor, vse do pozitivne napajalne napetosti. Metoda temelji na bandgap potencialu energijske reze silicija, arhitektura omogoča napajanje pod 1V.
F.23 Razvoj novih sistemskih, normativnih, programskih in metodoloških rešitev
COBISS.SI-ID: 5852244Prof. Janez Trontelj je član TPC (Technical Program Comitee) največje strokovne konference na svetu, European SOlid-State Circuit Conference. Člani TPC so najuglednješi svetovni znanstveniki na tem področju. Gre za izjemno resno ocenjevanje, saj vsak prispevek pregleda in oceni osem strokovnjakov in potem na celodnevnem posvetu izberejo 20% prispevkov. Prof. Janez Trontelj deluje v TPC na področju senzorskih sistemov, kar je vezano na vsebino programa.
D.03 Članstvo v tujih/mednarodnih odborih/komitejih
COBISS.SI-ID: 7641428V članku preverjamo možnost poenostavljanja in pohitritve testiranja za Sigma-Delta A-D pretvornike visoke ločljivosti. Metodologija se lahko uporabi tako za produkcijsko testiranje, kot tudi za vgrajeno testiranje. Pokažemo, da je psevdo-naključni signal primeren izvor testnega signala ter da testna metoda vodi k učinkovitem in cenovno ugodnem produkcijskem testiranju; metoda je uporabna tudi za vgrajeno testiranje, ki poteka v realnem času. Prispevek vsebuje teoretično analizo in verifikacijo metode z uporabo Matlab modela.
B.03 Referat na mednarodni znanstveni konferenci
COBISS.SI-ID: 6655572