Na mednarodni konferenci smo predstavili rezultate sinteze in karakterizacije večplastnega SiO2 sloja z vgrajenim pigmentom v jedru. Raziskave so potekale v sodelovali z raziskovalci z Univerze v Cambridgeu (Združeno kraljestvo), Kemijskega inštituta in Inštituta Jožef Štefan. Raziskovali smo vplive sinteznih parametrov kot so količina dodanega prekurzorja in število ponovljenih stopenj sintez, na lastnosti oplaščenih delcev. Poleg predstavljenih poročanj o sinteznih poteh novega materiala, je bil eden zelo pomembnih delov raziskav tudi analiza materiala z metodo elektronske tomografije (EF-TEM analize) in analize visoke ločljivosti s presevnim elektronskim mikroskopom (HAAD-STEM), ki sta se izkazali kot zelo primerni tehniki za analizo neurejenih poroznih sistemov.
B.03 Referat na mednarodni znanstveni konferenci
COBISS.SI-ID: 2341735