Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Projekti / Programi vir: ARIS

Raziskave v fiziki površin s sinhrotronsko svetlobo na pospeševalniku Elettra

Uredi
Raziskovalna dejavnost

Koda Veda Področje Podpodročje
1.02.01  Naravoslovje  Fizika  Fizika kondenzirane materije 

Koda Veda Področje
P250  Naravoslovno-matematične vede  Kondenzirane snovi: struktura, termične in mehanske lastnosti, kristalografija, fazno ravnovesje 
P260  Naravoslovno-matematične vede  Kondenzirane snovi: elektronska struktura, električne, magnetne in optične lstnosti, supraprevodniki, magnetna rezonanca, relaksacija, spektroskopija 
Ključne besede
površine, sinhrotronsko sevanje, elektronska spektroskopija, rast kristalov
Vrednotenje (pravilnik)
vir: COBISS
Vrednotenje bibliografskih kazalcev raziskovalne uspešnosti po metodologiji ARIS
Citiranost Citiranost bibliografskih zapisov v COBIB.SI, ki so povezani z zapisi citatnih baz
vir: WoS vir: Scopus vir: COBISS
Raziskovalci (3)
št. Evidenčna št. Ime in priimek Razisk. področje Vloga Obdobje Štev. publikacij
1.  11546  dr. Dean Cvetko  Fizika  Vodja  1998 - 2001  0 
2.  15703  dr. Janez Kovač  Elektronske komponente in tehnologije  Raziskovalec  1998 - 2001  0 
3.  03366  Marko Žumer  Elektronske komponente in tehnologije  Raziskovalec  1998 - 2001  0 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  18 
Povzetek
Projekt obsega naslednje raziskave iz fizike površin z uporabo sinhrotronske svetlobe na pospeševalniku Elettra: (i) Študij univerzalnih skalnih relacij in dinamičnega razvoja pri epitaksijalni rasti kristalov, (ii) meritve vpliva omejene geometrije in kvantizacije elektronskih stanj na strukturo in dinamiko tankih kovinskih filmov, (iii) študij faznih prehodov na čistih in z adsorbati prekritih površinah, (iv) spektromikroskopske meritve na faznih mejah kovina/polprevodnik.
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno